一、试验标准依据与应用必要性
电子电器元件在使用、运输及存储过程中，常面临温度急剧变化环境，易引发材料疲劳、焊点开裂、接触不·良、性能漂移等问题。冷热冲击试验是用于验证产品环境适应性、开展可靠性筛选与质量控制的常用测试手段，相关测试设备需符合国家、国际及行业通用试验标准，以保障试验过程规范、数据可追溯、结果具备参考价值。
本系列设备可支持开展以下标准对应的试验：
· GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 电工电子产品环境试验温度变化试验
· GJB 150.5A-2009 军·用装备实验室环境试验方法温度冲击试验
· GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法
· GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007 低温试验方法
· GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2:2007 高温试验方法
· GB/T 10589-2008、GB/T 11158-2008 试验箱技术条件
上述标准适用于各类电子元器件、组件、汽车电器、材料等产品的型式检验、出厂检验与可靠性验证，可满足生产企业、科研机构、检测及认证等单位的常规测试需求。
二、标准对试验设备的基本要求
1.温度范围与冲击区间满足标准规定的高温、低温及温度变化参数要求；
2.温度均匀性、波动度等指标符合试验箱技术条件与环境试验方法要求；
3.具备稳定的加热、制冷与风道循环系统，可实现设定条件下的温度交变；
4.具备程序控制功能，可按试验标准设定温度、保持时间、循环次数等参数；
5.配置完善的安·全保护装置，保障设备与测试样品运行安·全。
三、海达可程式冷热冲击试验箱（三箱式）产品介绍
产品概况
海达HD-E703 系列三箱式可程式冷热冲击试验机，为电子元气件、电工、汽车电器及相关材料提供温度冲击环境测试条件，可用于可靠性试验、产品筛选及质量控制，适用于电子、家电、汽车、科研、检测等领域。
结构与配置（基于产品实测参数客观描述）
1.整体式三箱结构，设高温预热区、低温预冷区、测试区，通过风门切换实现气流循环，设备底部配有脚轮与脚杯，便于移动与定位。
2.箱体外壳采用冷轧钢板加工处理，内胆采用SUS304 不锈钢，保温层采用聚氨酯硬质发泡与玻璃纤维棉复合结构。
3.箱门配硅胶密封条与防爆式把手，测试区预留Φ50mm 引线测试孔及隔热密封配件，可满足部分样品带电测试需求。
4.采用进口品牌压缩机组成二元式冷冻系统，使用环保制冷剂，搭配板式换热器，保障低温稳定运行。
5.采用液晶触摸式可编程控制器，支持PID 自动调节，温度显示分辨率 0.1℃，配置 RS 232、USB 等接口，便于数据存储与导出。
6.具备超温、过载、超压、欠相/ 逆相、漏电、故障报警及自动停机等多重保护功能。
核心技术参数（以型号HD-E703-50S/HD-E703-100 为例）
·内容积：50L / 100L
·高温范围：RT~170℃
·低温范围：-75℃~RT
·测试区温度：-40℃~150℃、-55℃~150℃、-65℃~150℃（按机型配置）
·温度冲击范围：高温60℃~150℃，低温-10℃~-40℃/-55℃/-65℃（按机型配置）
·温度波动度、均匀度符合GB/T 10589、GB/T 11158 及环境试验方法标准要求
·升温、降温速率及储热、储冷时间符合产品设计指标，可满足常规温度冲击试验需求
·电源：三相380V 50Hz
适用样品类型
可用于芯片、电阻、电容、连接器、PCB 组件、车载电子部件、各类电子模块等电子电器元件及材料的温度冲击测试。
四、产品推荐
结合电子电器元件行业常规测试需求，推荐以下两款机型：
1.HD-E703-50S 可程式冷热冲击试验机内容积50L，适合小型电子元器件、芯片、连接器等样品的可靠性测试与筛选，占用空间较小，适配研发及小批量质检场景。
2.HD-E703-100 可程式冷热冲击试验机内容积100L，适合 PCB 组件、中小型电子模块、车载电器部件等样品测试，满足批量试验与常规型式检验需求。
五、说明
1.本内容基于产品技术文件客观表述，不涉及功效断言、绝·对化描述及安·全性保证，设备使用效果与测试结果受样品特性、操作规范、环境条件等因素影响。
2.产品技术参数、外观、配置可能因优化升级调整，具体以厂家正式产品规格书与合同约定为准。
3.设备使用前请仔细阅读操作说明书，按相关试验标准与安·全规范操作。